Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits /

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Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Healy, James Thomas (Autor, Autor/a)
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	Reston, Va. : Reston, c1981.
Materias:	CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES VERIFICACION AUTOMATICA EQUIPO

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