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Multiple-beam interference microscopy of metals /
Detalles Bibliográficos
Autor principal:
Tolansky, Samuel 1907-1973
(Autor/a)
Formato:
Libro
Lenguaje:
English
Publicado:
New York, New York :
Academic,
1970.
Materias:
METALOGRAFIA
INTERFERENCIA MICROSCOPICA
Existencias
Descripción
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Vista Equipo
Descripción
Notas:
Incluye indice.
Descripción Física:
147 páginas : ilustraciones.
ISBN:
0126926506
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