Multiple-beam interference microscopy of metals /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tolansky, Samuel 1907-1973 (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Academic, 1970.
Materias:
LEADER 00714nam a2200229 u 4500
001 000305818
005 20190213092630.0
008 160906s1970 xxu ||||| eng
020 |a 0126926506 
035 |a 94481 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a eng 
082 0 |a 669.502.82  |b T647m  |2 00 
100 1 |a Tolansky, Samuel  |d 1907-1973  |e Autor/a 
245 1 0 |a Multiple-beam interference microscopy of metals /  |c S. Tolansky. --. 
260 |a New York, New York :  |b Academic,  |c 1970. 
300 |a 147 páginas :  |b ilustraciones. 
500 |a Incluye indice. 
650 |a METALOGRAFIA 
650 |a INTERFERENCIA MICROSCOPICA 
949 |a -ME b AM 
916 |a Registros del LS-2000