Rational fault analysis : symposium /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Saeks, Richard (Autor/a), Liberty, Stanley (Autor/a)
Autor Corporativo: Symposium on Rational Fault Analysis Texas Tech University) (Autor)
Formato: Procedimiento de la Conferencia Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : M. Dekker, 1977.
Colección:Electrical engineering and electronics
Materias:
Descripción
Descripción Física:ix, 241 páginas : ilustraciones ; 24 cm.--
Bibliografía:Bibliografia : p. 165-238.
ISBN:0824765419