Rational fault analysis : symposium /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Saeks, Richard (Autor/a), Liberty, Stanley (Autor/a)
Autor Corporativo: Symposium on Rational Fault Analysis Texas Tech University) (Autor)
Formato: Procedimiento de la Conferencia Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : M. Dekker, 1977.
Colección:Electrical engineering and electronics
Materias:
LEADER 01011nam a2200265 u 4500
001 000322667
005 20110720143301.0
008 s1977 s1977 xxu ||||| eng
020 |a 0824765419 
035 |a 97664 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a eng 
082 0 |a 621.381.5  |b S989r  |2 00 
111 2 |a Symposium on Rational Fault Analysis  |d (1974 :  |c Texas Tech University)  |j Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Rational fault analysis :  |b symposium /  |c edited by Richard Saeks, Stanley R. Liberty. -- 
260 |a New York, New York :  |b M. Dekker,  |c 1977. 
300 |a ix, 241 páginas :  |b ilustraciones ;  |c 24 cm.-- 
490 0 |a Electrical engineering and electronics 
504 |a Bibliografia : p. 165-238. 
650 |a ELECTRONICA  |x APARATOS E INSTRUMENTOS 
650 |a ELECTRONICA  |x APARATOS E INSTRUMENTOS - PRUEBAS - CONGRESOS 
700 1 |a Saeks, Richard  |e Autor/a  |4 aut 
700 1 |a Liberty, Stanley  |e Autor/a  |4 aut 
949 |a -GA b RQC 
916 |a Registros del LS-2000