Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces /

Bibliographic Details
Main Author: Fan, Yongquan (Autor/a)
Other Authors: Zilic, Zeljko (Autor/a)
Format: Book
Language:English
Published: New York : Springer, c2011.
Series:Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
Subjects:
Online Access:Ver documento en línea
Description
Physical Description:1 recurso en línea (xii, 194 páginas) : ilustraciones (algunas a color), diagramas a color, gráficos (algunos a color), archivo de texto, PDF.
ISBN:9789048193981
9789048193974
Access:Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional