Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies. /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , , , |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, N.Y. :
Springer,
[2010].
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Descripción Física: | 1 recurso en línea (xv, 171 páginas) : ilustraciones (algunas a color), diagramas (algunos a color), fotografías (algunas a color), gráficos (algunos a color), archivo de texto, PDF. |
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| ISBN: | 9781441909381 9781441909374 |