Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies. /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, N.Y. :
Springer,
[2010].
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
Internet
Ver documento en líneaSistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
621.397.3 |
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| Copia | Disponible |