Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies. /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bosio, Alberto (Autor/a)
Otros Autores: Dilillo, Luigi (Autor/a), Girard, Patrick (Autor/a), Pravossoudovitch, Serge 1957- (Autor/a), Virazel, Arnaud 1974- (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, N.Y. : Springer, [2010].
Materias:
ALMACENAMIENTO VIRTUAL (COMPUTACION)
DISPOSITIVOS DE ALMACENAMIENTO (COMPUTADORAS)
Acceso en línea:Ver documento en línea

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