Electromigration inside logic cells : modeling, analyzing and mitigating signal electromigration in nanoCMOS /
| Formato: | Libro |
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| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
c2017.
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
Internet
Ver documento en líneaSistema de Bibliotecas de Universidad de Costa Rica
| Copia | Disponible |
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