Acondicionamiento y actualizaciòn de un Sistema de Rayos - X, marca Phillips, modelo PW173. /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis Libro |
| Lenguaje: | Spanish |
| Publicado: |
San Salvador, El Salvador:
Universidad de El Salvador,
1999.
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| Materias: |
Tabla de Contenidos:
- Fundamentos sobre difracciòn de rayos X - Los rayos X: Emisiòn de rayos X, Espectro de rayos X: Espectros continuos de provienen de fuentes bombardeadas con un haz de electrones, Espectros de lìnea caracterìsticos producidos por las fuentes de haces de electrones - Difracciòn: Difracciòn de rayos x (componentes de un sistema de refracciòn), Fuentes, Filtros para haces de rayos x, Dectores de rayos x, Procesador de señal y dispositivo de lectura - El sistema de difracciòn Phillips PW17300/00 - Diagrama en bloques del circuito electrònico de la unidad PW1730/00 - Goniometro horizontal PW1380 - Mòdulo de control de canal PW1390 - Interfaz de adquisiciòn de datos para el sistema de difracciòn Philips PW17300/00, etc.