Advances in X-Ray Analysis / Edited by William M. Mueller ; sponsored by University Denver

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Mueller, William M.
Formato:	Libro
Lenguaje:	Undetermined
Publicado:	New York : Plenum Press
Materias:	1.RAYOS X -APLICACIONES INDUSTRIALES

Descripción
Descripción Física:	v.4 il.

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