Caracterización de películas delgadas de dióxido de vanadio (VO2) en ventanas inteligentes

El siguiente estudio fue desarrollado en dos fases en el Laboratorio de Magnetismo y Materiales Magnéticos (LMMM) de la Universidad Federal de Santa María (UFSM), Brasil. La primera fase, se centró en el empleo de programas de simulación por computadora XOP-IMD y Phillips-WinGiXa, para el desarroll...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Santamaría Lezcano, Marciano (autor)
Otros Autores: Cruz De Gracia, Evgeni Svenk (asesor), Schelp, Luiz Fernando (asesor)
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Spanish
Materias:
Acceso en línea:http://up-rid.up.ac.pa/2868/3/marciano_santamaria.pdf
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100 1 |a Santamaría Lezcano, Marciano  |e autor 
245 1 0 |a Caracterización de películas delgadas de dióxido de vanadio (VO2) en ventanas inteligentes  |c / Marciano Santamaría Lezcano ; tesis realizada bajo la orientación de los Drs. Evgeni Svenk Cruz de Garcia y Luiz Fernando Schelp. 
264 3 |a Panamá :   |b Universidad, Vicerrectoría de Investigación y Postgrado,  |c 2012 
300 |a xv, 106 páginas :   |b ilustraciones ;   |c 28 cm 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a no mediado  |b n  |2 rdamedia 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdacarrier 
500 |a "Tesis sometida para optar al título de Maestría en Ciencias Físicas". - Página del título. 
500 |a En: UP-RID 
502 |g Tesis  |b Maestría  |c Universidad de Panamá. Vicerrectoría de Investigación y Postgrado, Facultad de Ciencias Naturales, Exactas y Tecnología,  |d 2012 
520 3 |a El siguiente estudio fue desarrollado en dos fases en el Laboratorio de Magnetismo y Materiales Magnéticos (LMMM) de la Universidad Federal de Santa María (UFSM), Brasil. La primera fase, se centró en el empleo de programas de simulación por computadora XOP-IMD y Phillips-WinGiXa, para el desarrollo de tres tipos de simulaciones. En primer lugar, se investigó la morfología del sistema estructurado en multicapas delgadas alternadas de VO2/SiO2 sobre sustrato de vidrio, mediante simulación de la reflectividad óptica de rayos X (XRR, en inglés), para incidencia rasante, con el objeto de comparar los resultados de los difractogramas experimentales, previamente obtenidos, con los resultados de la simulación. En la segunda fase de este estudio, se investigó experimentalmente la transición de fase metal-aislante (MIT, en inglés) de películas delgadas policristalinas de VO2, estructurado en monocapas y sinterizadas mediante la técnica de Erosión Iónica (Sputering, en inglés) en atmósfera reactiva. Las muestras fueron producidas en distintas condiciones de deposición en cuanto a temperatura de síntesis y tipo de substrato, siendo determinadas las fases cristalinas presentes y su textura, por difracción de rayos X (XRD, en inglés) a temperatura ambiente. Los resultados experimentales demuestran que las películas delgadas de VO2 son policristalinas y las condiciones de síntesis, tales como tipo de substrato, temperatura y tiempo, sugieren la aparición de estrés tensil en la estructura cristalina del VO2, que afecta significativamente los parámetros estructurales y de transición metal-aislante en la curvas R-T. 
650 7 |2 LEMB  |a REVESTIMIENTOS PROTECTORES  |9 167041 
650 7 |2 LEMB  |9 167042  |a PELICULAS DELGADAS 
650 7 |2 LEMB DIG.  |9 167043  |a MINERALES DE VANADIO 
650 7 |2 LEMB DIG.  |9 167044  |a METALES DE TRANSICION 
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700 1 |a Cruz De Gracia, Evgeni Svenk  |e asesor 
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