Análisis mediante microscopía electrónica de barrido (SEM-EDS) del Ortosilicato Li2Fe1-xNixSio4
En este trabajo se examinan distintas muestras de Li2Fe1_XNi,SiO4 con distintas proporciones de níquel como elemento dopante (x= 0, 0.05, 0.10, 0.15, 0.20, 0.30), luego de exposiciones al aire por un periodo de mas de un año. Los espectros Mössbauer exhiben dobletes de Fe3+, además de los propios de...
Autor principal: | |
---|---|
Otros Autores: | |
Formato: | Tesis Libro |
Lenguaje: | Spanish |
Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Panamá
Número de Clasificación: |
T 543.0858 |
---|---|
Copia | Disponible |