Medición de células solares de película delgada de silicio amorfo hidrogenado usando el método VIM
| Autor principal: | |
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| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | Spanish |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://revistas.up.ac.pa/index.php/tecnociencia/article/view/776/663 |
| Notas: | En: UP-RID |
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| Descripción Física: | ilustraciones |
| ISSN: | 1609-8102 2415-0940 16098102 |