Medición de células solares de película delgada de silicio amorfo hidrogenado usando el método VIM

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Muñoz Lasso, Alcides (autor)
Formato: Artículo
Lenguaje:Spanish
Materias:
Acceso en línea:http://revistas.up.ac.pa/index.php/tecnociencia/article/view/776/663
LEADER 01106nab a2200253 i 4500
003 PA-PaUSB
005 20200925223726.0
007 ta
008 160303b pn fx|p||||||z|0| z|spa|d
022 0 |a 1609-8102 
022 0 |a 2415-0940 
040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Panamá 
100 1 |9 187790  |a Muñoz Lasso, Alcides  |e autor 
245 1 0 |a Medición de células solares de película delgada de silicio amorfo hidrogenado usando el método VIM  |c / Alcides Muñoz Lasso 
300 |b ilustraciones 
500 |a En: UP-RID 
650 7 |9 147668  |a CIRCUITOS 
650 7 |2 LEMB  |9 151252  |a SILICIO 
650 7 |9 164048  |a PELICULAS DELGADAS 
773 0 |x 16098102  |t Tecnociencia  |d Panamá: Universidad de Panamá, Facultad de Ciencias Naturales, Exactas y Tecnología  |g Volumen 7, Número 2 ( Septiembre 2005) páginas 145-157.  
856 |u http://revistas.up.ac.pa/index.php/tecnociencia/article/view/776/663 
942 |2 ddc  |c CR 
999 |c 189854  |d 189854 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 VOL__7_NO_2__200500000000000  |7 0  |8 H  |9 302900  |a 10  |b 10  |c 12  |d 2016-03-03  |o Vol.7, No.2. 2005  |r 2016-03-03  |t 3  |w 2016-03-03  |y CR