Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Ramírez Porras, Arturo (Autor/a)
Otros Autores:	Araya Pochet, José Alberto (Director/a del TFG)
Formato:	Tesis Libro
Lenguaje:	Spanish
Publicado:	[San José], C.R., 2005.
Materias:	SILICIO > PROPIEDADES ELECTRICAS DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS DIODOS EMISORES DE LUZ OPTOELECTRONICA > INVESTIGACIONES
Acceso en línea:	Ver documento en repositorio

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