Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Hoboken, New Jersey :
J. Wiley & Sons,
c2012.
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| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
620.5 |
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| Copia | Disponible |