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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
Publicado 2008
Materias: “...CIRCUITOS INTEGRADOS...”
Libro
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VLSI test principles and architectures : design for testability /
por Laung-Terng, Wang
Publicado 2006
Materias: “...CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES...”
Libro
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