VLSI test principles and architectures : design for testability /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier,
c2006.
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| Colección: | The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon / series editor Wayne Wolf, Georgia Institute of Technology
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| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
621.395 |
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| Copia | Disponible |