VLSI test principles and architectures : design for testability /
Autor principal: | |
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Otros Autores: | , |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier,
c2006.
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Colección: | The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon / series editor Wayne Wolf, Georgia Institute of Technology
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Materias: |
Notas: | Impreso en Estados Unidos |
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Descripción Física: | xxx, 777 páginas : ilustraciones |
ISBN: | 9780123705976 |