RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING USING VERIFICATION PATTERNS.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	TSAI, WEI-TEK
Formato:	Artículo
Lenguaje:	Spanish
Materias:	PROGRAMAS DE COMPUTACION DESARROLLO DE PROGRAMAS CIRCUITOS INTEGRADOS COMPUTADORAS DIGITALES REGRESION NO LINEAL SISTEMAS ENCAJADOS Artículos de revista

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