Saltar al contenido
VuFind
Lenguaje
English
Español
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING...
Existencias
Citar
Enviar este por Correo electrónico
Imprimir
Exportar Registro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Exportar a MARC
Exportar a RDF
Exportar a BibTeX
Exportar a RIS
RAPID EMBEDDED SYSTEM TESTING USING VERIFICATION PATTERNS.
Detalles Bibliográficos
Autor principal:
TSAI, WEI-TEK
Formato:
Artículo
Lenguaje:
Spanish
Materias:
PROGRAMAS DE COMPUTACION
DESARROLLO DE PROGRAMAS
CIRCUITOS INTEGRADOS
COMPUTADORAS DIGITALES
REGRESION NO LINEAL
SISTEMAS ENCAJADOS
Artículos de revista
Existencias
Descripción
Ejemplares similares
Vista Equipo
Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
Detalle de Existencias desde Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
Copia
Disponible
Ejemplares similares
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
Publicado: (2008)
Effective functional verification : principles and processes /
por: Vasudevan, Srivatsa, et al.
Publicado: (2006)
Medidores digitales : instrumentación lineal y digital /
por: Perales Benito, Tomás, et al.
Publicado: (1982)
Digital theory and practice using integrated circuits /
por: Levine, Morris E., et al.
Publicado: (1978)
A tool for test automation with support remote tests /
por: Magalhâes, G.R., et al.
Publicado: (1999)
×
Cargando...