Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kalinin, Sergei (Editor )
Otros Autores: Gruverman, Alexei (Editor , Editor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Springer, c2007.
Materias:
MICROSCOPIA DE EXPLORACION CON SONDA
MICROSCOPIOS ELECTRONICOS

Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica

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Número de Clasificación: 502.825
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