Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
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Otros Autores: | |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York, New York :
Springer,
c2007.
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Materias: |
Descripción Física: | 2 volúmenes : ilustraciones (algunas a color) |
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ISBN: | 0387286675 9780387286679 |