Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, New York :
Springer,
c2007.
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| Materias: |
| Descripción Física: | 2 volúmenes : ilustraciones (algunas a color) |
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| ISBN: | 0387286675 9780387286679 |