Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kalinin, Sergei (Editor )
Otros Autores: Gruverman, Alexei (Editor , Editor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Springer, c2007.
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
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100 1 |a Kalinin, Sergei  |e Editor/a  |4 edt 
245 1 0 |a Scanning probe microscopy :  |b electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /  |c Sergei Kalinin, Alexei Gruverman, editors 
260 |a New York, New York :  |b Springer,  |c c2007. 
300 |a 2 volúmenes :  |b ilustraciones (algunas a color) 
650 |a MICROSCOPIA DE EXPLORACION CON SONDA 
650 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS 
700 1 |a Gruverman, Alexei  |e Editor/a  |4 edt 
912 |a 11-AUG-2011 - GARRIDO CORDERO, IRINA 
915 |a 10-AUG-2011 
917 |a 21-JUL-2011 - ARGUEDAS SAENZ, YAMILETH 
949 |a IG -EMQ 
916 |a Centro Catalográfico