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LEADER |
01549nam a2200409 i 4500 |
001 |
000279121 |
005 |
20240307150226.0 |
007 |
cr nn 008mamaa |
008 |
100301s2010 xxu fs 000 0|eng d |
020 |
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|a 9781441909381
|q (e-book)
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040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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245 |
0 |
0 |
|a Advanced Test Methods for SRAMs :
|b effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /
|c creadores Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel.
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250 |
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|a 1 edición
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260 |
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|a New York, NY :
|b Springer,
|c 2010.
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300 |
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|a 1 recurso en línea :
|b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas.
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336 |
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|a texto
|b txt
|2 rdacontenido
|
337 |
|
|
|a computadora
|b c
|2 rdamedio
|
338 |
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|
|a recurso en línea
|b cr
|2 rdaportador
|
500 |
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|
|a Base de Datos SPRINGER
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504 |
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|a Referencias
|
590 |
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|a COMP
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590 |
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|a INGE
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590 |
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|
|a TECN
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590 |
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|a CISO
|
650 |
1 |
7 |
|a Circuitos electrónicos
|2 Tesauro SIBITEC
|
650 |
1 |
7 |
|a Dispositivos de memoria
|2 Tesauro SIBITEC
|
650 |
1 |
7 |
|a Circuitos y sistemas
|2 Tesauro SIBITEC
|
650 |
1 |
7 |
|a Conductividad eléctrica
|2 Tesauro SIBITEC
|
650 |
1 |
7 |
|a Amplificadores
|2 Tesauro SIBITEC
|
650 |
1 |
7 |
|a Semiconductores
|2 Tesauro SIBITEC
|
655 |
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4 |
|a Libros electrónicos
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700 |
1 |
|
|a Bosio, Alberto,
|e creador
|
700 |
1 |
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|a Dilillo, Luigi.
|e creador
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700 |
1 |
|
|a Girard, Patrick,
|e creador
|
700 |
1 |
|
|a Pravossoudovitch, Serge,
|e creador
|
700 |
1 |
|
|a Virazel, Arnaud,
|e creador
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903 |
|
|
|a Lisandro
|b 2024/03/07
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