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| LEADER |
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| 001 |
000279121 |
| 005 |
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| 007 |
cr nn 008mamaa |
| 008 |
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| 020 |
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|a 9781441909381
|q (e-book)
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| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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| 245 |
0 |
0 |
|a Advanced Test Methods for SRAMs :
|b effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /
|c creadores Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel.
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| 250 |
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|
|a 1 edición
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| 260 |
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|a New York, NY :
|b Springer,
|c 2010.
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| 300 |
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|
|a 1 recurso en línea :
|b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas.
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| 336 |
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|
|a texto
|b txt
|2 rdacontenido
|
| 337 |
|
|
|a computadora
|b c
|2 rdamedio
|
| 338 |
|
|
|a recurso en línea
|b cr
|2 rdaportador
|
| 500 |
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|
|a Base de Datos SPRINGER
|
| 504 |
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|
|a Referencias
|
| 590 |
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|a COMP
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| 590 |
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|a INGE
|
| 590 |
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|
|a TECN
|
| 590 |
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|
|a CISO
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Circuitos electrónicos
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Dispositivos de memoria
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Circuitos y sistemas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Conductividad eléctrica
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Amplificadores
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Semiconductores
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 655 |
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4 |
|a Libros electrónicos
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| 700 |
1 |
|
|a Bosio, Alberto,
|e creador
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| 700 |
1 |
|
|a Dilillo, Luigi.
|e creador
|
| 700 |
1 |
|
|a Girard, Patrick,
|e creador
|
| 700 |
1 |
|
|a Pravossoudovitch, Serge,
|e creador
|
| 700 |
1 |
|
|a Virazel, Arnaud,
|e creador
|
| 903 |
|
|
|a Lisandro
|b 2024/03/07
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