Advanced Test Methods for SRAMs : effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies /
Otros Autores: | Bosio, Alberto (creador), Dilillo, Luigi. (creador), Girard, Patrick (creador), Pravossoudovitch, Serge (creador), Virazel, Arnaud (creador) |
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Formato: | eBook |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York, NY :
Springer,
2010.
|
Edición: | 1 edición |
Materias: |
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