Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Sachdev, Manoj
Otros Autores: Pineda-de-Gyvez, José (creador)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Dordrecht, Países Bajos : Springer, 2007.
Edición:2 edición
Materias:
Electrónica
Circuitos integrados
Semiconductores > Óxidos
Circuitos lógicos
Tecnología eléctrica
Pruebas analógicas
Modelado de fallas
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