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| LEADER |
01331nam a2200361 u 4500 |
| 001 |
000300803 |
| 005 |
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| 008 |
210610s2007 ne |s 00| 0 eng d |
| 020 |
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|a 9780387465470
|q (e-book)
|
| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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| 100 |
1 |
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|a Sachdev, Manoj
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| 245 |
1 |
0 |
|a Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits /
|c creadores Manoj Sachdev, José Pineda-de-Gyvez.
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| 250 |
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|
|a 2 edición
|
| 260 |
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|a Dordrecht, Países Bajos :
|b Springer,
|c 2007.
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| 300 |
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|a 1 recurso en línea :
|b ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas.
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| 336 |
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|a texto
|b txt
|2 rdacontenido
|
| 337 |
|
|
|a computadora
|b c
|2 rdamedio
|
| 338 |
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|
|a recurso en línea
|b cr
|2 rdaportador
|
| 500 |
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|
|a Incluye índice.
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| 590 |
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|a INGE
|
| 590 |
|
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|a ELEC
|
| 590 |
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|
|a TECN
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Electrónica
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Circuitos integrados
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Semiconductores
|x Óxidos
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Circuitos lógicos
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Tecnología eléctrica
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Pruebas analógicas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Modelado de fallas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 655 |
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4 |
|a Libros electrónicos
|
| 700 |
1 |
|
|a Pineda-de-Gyvez, José,
|e creador
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| 902 |
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|a Xiomara
|b 2021/06/14
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| 900 |
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|a Base de Datos: Proquest
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