Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits /
Autor principal: | |
---|---|
Otros Autores: | |
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Dordrecht, Países Bajos :
Springer,
2007.
|
Edición: | 2 edición |
Materias: |
Notas: | Incluye índice. |
---|---|
Descripción Física: | 1 recurso en línea : ilustraciones, diagramas, gráficas, tablas. |
ISBN: | 9780387465470 |