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| LEADER |
01262nam a2200313 i 4500 |
| 001 |
000306991 |
| 005 |
20240411143403.0 |
| 008 |
220609s2004 cr a fr 000 0 spa d |
| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas del Tecnológico de Costa Rica
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| 082 |
0 |
4 |
|a 530.4175
|b A481p
|2 23
|
| 100 |
1 |
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|a Amador-Jara, Alvaro
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| 245 |
1 |
0 |
|a Propiedades ópticas de películas delgadas semiconductoras :
|b dependencia espectral del índice de refracción complejo /
|c creador Álvaro Antonio Amador-Jara.
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| 250 |
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|
|a 1 edición
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| 260 |
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|a [San José], Costa Rica :
|b A. A. Amador J.,
|c 2004.
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| 300 |
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|a 100 hojas :
|b ilustraciones, gráficas, tablas.
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| 336 |
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|a texto
|b txt
|2 rdacontenido
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| 337 |
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|a no mediado
|b n
|2 rdamedio
|
| 338 |
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|a volumen
|b nc
|2 rdaportador
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| 502 |
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|
|a Tesis (magíster scientiae en física), Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado. Programa de Posgrado en Física, 2004.
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| 504 |
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|a Referencias
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| 590 |
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|a FISI
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| 590 |
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|a COTA
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| 590 |
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|a INGE
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Películas delgadas
|x Propiedades ópticas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Semiconductores
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Películas delgadas
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 650 |
1 |
7 |
|a Análisis espectral
|2 Tesauro SIBITEC
|
| 655 |
|
4 |
|a Libros
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| 902 |
|
|
|a Elieth
|b 2024/04/11
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