Characterization of epitarial semiconductor films /
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier Scientific,
1976.
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| Colección: | Methods nad phenomena. Their applications in science and technology ;
v. 2) |
| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
530.41 |
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| Copia | Disponible |