Characterization of epitarial semiconductor films /
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier Scientific,
1976.
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Colección: | Methods nad phenomena. Their applications in science and technology ;
v. 2) |
Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
Número de Clasificación: |
530.41 |
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Copia | Disponible |