Characterization of epitarial semiconductor films /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kressel, Henry (Editor )
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Amsterdam : Elsevier Scientific, 1976.
Colección:Methods nad phenomena. Their applications in science and technology ; v. 2)
Materias:
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300 |a 216 páginas ;  |c 25 cm.-- 
490 0 |a Methods nad phenomena. Their applications in science and technology ;  |v v. 2) 
650 |a SEMICONDUCTORES 
650 |a PELICULAS DELGADAS 
949 |a MRM-AE-bGG 
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