Characterization of epitarial semiconductor films /
Autor principal: | |
---|---|
Formato: | Libro |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier Scientific,
1976.
|
Colección: | Methods nad phenomena. Their applications in science and technology ;
v. 2) |
Materias: |
Descripción Física: | 216 páginas ; 25 cm.-- |
---|---|
ISBN: | 044441438X |