Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2 /

Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2 /

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Morita, Seizo. (Editor ), Giessibl, Franz J. (Editor ), Wiesendanger, Roland. (Editor )
Formato: eBook
Lenguaje:English
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2009.
Edición:1st ed. 2009.
Colección:NanoScience and Technology,
Materias:
Nanotechnology.
Spectroscopy.
Microscopy.
Mechanics.
Mechanics, Applied.
Engineering.
Condensed matter.
Nanotechnology and Microengineering.
Spectroscopy and Microscopy.
Theoretical and Applied Mechanics.
Engineering, general.
Condensed Matter Physics.
Acceso en línea:https://doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6

Internet

https://doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6

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