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| LEADER |
00751nam a2200217 u 4500 |
| 001 |
000085497 |
| 005 |
.0 |
| 008 |
990616s1990 xxu ||||| eng |
| 020 |
|
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|a 0780310624
|
| 035 |
|
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|a 4848913
|
| 040 |
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|
|a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
|
| 041 |
0 |
|
|a eng
|
| 082 |
0 |
|
|a 621.381.5
|b A161D
|2 00
|
| 100 |
1 |
|
|a Abramovici, Miron
|e Autor/a
|4 aut
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Digital systems testing and testable design /
|c Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
|
| 260 |
|
|
|a New York, New York :
|b IEEE,
|c c1990.
|
| 300 |
|
|
|a xvii, 652 páginas :
|b ilustraciones
|
| 650 |
|
|
|a ELECTRONICA DIGITAL
|
| 700 |
1 |
|
|a Breuer, Melvin A.
|e Autor/a
|4 aut
|
| 700 |
1 |
|
|a Friedman, Arthur D.
|e Autor/a
|4 aut
|
| 916 |
|
|
|a Centro Catalográfico
|