Digital systems testing and testable design /

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Digital systems testing and testable design /

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Abramovici, Miron (Autor, Autor/a), Breuer, Melvin A. (Autor/a), Friedman, Arthur D. (Autor/a)
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	New York, New York : IEEE, c1990.
Materias:	ELECTRONICA DIGITAL

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