Fundamentals of surface and thin film analysis /

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Feldman, Leonard C. (Autor, Autor/a)
Otros Autores:	Mayer, James Walter 1930-2013 (Autor/a)
Formato:	Libro
Lenguaje:	English
Publicado:	Englewood Cliffs, N.J. : PTC Prenctice-Hall, c1986.
Materias:	SUPERFICIES (TECNOLOGIA) > ANALISIS PELICULAS DELGADAS > ANALISIS ANALISIS ESPECTRAL

Descripción
Descripción Física:	352 páginas.
ISBN:	0135005701

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