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| LEADER |
00861nam a2200253 u 4500 |
| 001 |
000106525 |
| 005 |
20200623160452.0 |
| 008 |
960626s1986 xxu ||||| eng |
| 020 |
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|a 0135005701
|
| 035 |
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|a 147254
|
| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
|
| 041 |
0 |
|
|a eng
|
| 082 |
0 |
|
|a 530.41
|b F312F
|2 00
|
| 100 |
1 |
|
|a Feldman, Leonard C.
|e Autor/a
|4 aut
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Fundamentals of surface and thin film analysis /
|c Leonard C. Feldman, James W. Mayer.
|
| 260 |
|
|
|a Englewood Cliffs, N.J. :
|b PTC Prenctice-Hall,
|c c1986.
|
| 300 |
|
|
|a 352 páginas.
|
| 650 |
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|
|a SUPERFICIES (TECNOLOGIA)
|x ANALISIS
|
| 650 |
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|
|a PELICULAS DELGADAS
|x ANALISIS
|
| 650 |
|
|
|a ANALISIS ESPECTRAL
|
| 700 |
1 |
|
|a Mayer, James Walter
|d 1930-2013
|e Autor/a
|
| 912 |
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|
|a 15-FEB-2006 - BERMUDEZ RUIZ, AURORA
|
| 949 |
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|a AE-AE b AE
|
| 916 |
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|
|a Centro Catalográfico
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