Characterization of semiconductor materials /
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, New York :
McGraw-Hill,
1970.
|
| Colección: | Texas instruments electronics series
|
| Materias: |
Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
| Número de Clasificación: |
537.622 |
|---|---|
| Copia | Disponible |