Characterization of semiconductor materials /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kane, Philip F. 1920- (Autor, Autor/a), Larrabee, Graydon B. (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : McGraw-Hill, 1970.
Colección:Texas instruments electronics series
Materias:
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040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
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100 1 |a Kane, Philip F.  |d 1920-  |e Autor/a  |4 aut 
245 1 0 |a Characterization of semiconductor materials /  |c by Philip F. Kane and Graydon B. Larrabee. 
260 |a New York, New York :  |b McGraw-Hill,  |c 1970. 
300 |a 351 páginas :  |b ilustraciones ;  |c 26 cm.-- 
490 0 |a Texas instruments electronics series 
650 |a SEMICONDUCTORES 
700 1 |a Larrabee, Graydon B.  |e Autor/a  |4 aut 
949 |a AE b.EV 
916 |a Registros del LS-2000