$Nanostructure size determination in n+-type porous silicon by X-ray diffractormetry and Raman spectroscopy.$
Código QR

Código QR

Nanostructure size determination in n+-type porous silicon by X-ray diffractormetry and Raman spectroscopy.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Ramírez Porras, Arturo (Autor, Autor/a)
Formato:	Artículo
Lenguaje:	Undetermined
Materias:	SEMICONDUCTORES RAYOS X DIFRACCION ESPECTROSCOPIA DE RAMAN SILICIO
Acceso en línea:	Ver artículo en digital

Ejemplares similares

Study of electronic states, transport and luminescent properties of p-Type Porous Silicon
por: Ramírez Porras, Arturo, et al.
Publicado: (1997)

Chemical applications of raman spectroscopy /
por: Grasselli, Jeanette G., et al.
Publicado: (1981)

Infrared and Raman Spectroscopy /
por: Brame, Edward G.
Publicado: (1976)

Introduction to infrared and Raman spectroscopy /
por: Colthup, Norman B., et al.
Publicado: (1968)

Infrared and Raman spectroscopy : principles and spectral interpretation /
por: Larkin, Peter J.
Publicado: (2018)

Handbook of semiconductor silicon technology /
por: O' Mara, William C.
Publicado: (1990)

Introducción a la espectroscopia raman
por: Bermejo, Dionisio
Publicado: (1988)

Introducción a la espectroscopía Raman /
por: Bermejo, Dionisio, et al.
Publicado: (1988)

Silicon rectifier handbook : engineers' guide to silicon rectifier applications /
Publicado: (1966)

Aplicacoes da teoría de grupos na espectroscopía de raman e do infravermelho /
por: Bristoli, Anildo
Publicado: (1980)

Study of red photoluminescence in n+type porous silicon /
por: Ramírez Porras, Arturo
Publicado: (1996)

Infrared and Raman spectra of inorganic and coordination compounds /
por: Nakamoto, Kazuo 1922-, et al.
Publicado: (1997)

Infrared and Raman spectra of inorganic and coordination compounds /
por: Nakamoto, Kazuo 1922-, et al.
Publicado: (1978)

Los silicones y sus aplicaciones prácticas en el laboratorio, farmacia y terapéutica /
por: Martínez de Miralda, Luz, et al.
Publicado: (1961)

Amorphous silicon solar cells /
por: Takahashi, K., et al.
Publicado: (1986)

Crystals and X-Rays /
por: Lipson, H. S.
Publicado: (1970)

Silicon semiconductor technology /
por: Runyan, W. R.

Materiales avanzados para detección de contaminantes : caso del silicio poroso /
por: Ramírez Porras, Arturo, et al.
Publicado: (2007)

Elements of X-ray diffraction /
por: Cullity, B. D.
Publicado: (1956)

An introduction to X-Ray Crystallography /
por: Woolfson, M. M.
Publicado: (1970)

Molecular vibrations: the theory on infrared and Raman vibrational spectraInfrared and Raman vibrational spectra /
por: Wilson, E. Briht, Jr.
Publicado: (1955)

A Drag flow Sensor in silicón
por: Moncada Balmaceda, María V, et al.
Publicado: (1995)

Tables for conversion of X-ray diffraction angles to interplanar spacing
Publicado: (1950)

Molecular vibrations : the theory of infrared and Raman vibrational spectra /
por: Wilson, Edgar Bright 1908-1992
Publicado: (1980)

Vibrating molecules : an introduction to the interpretation of infrared and Raman spectra /
por: Gans, Peter, et al.
Publicado: (1971)

X-ray diffraction : modern experimental techniques /
Publicado: (2015)

Biofilms bacterianos asociados al fracaso endodóntico, análisis mediante espectroscopía Raman, análisis químico y respuesta inmunomodulatoria /
por: Ramírez Mora, Tatiana
Publicado: (2019)

Nuevo método gravimétrico para la determinación de sílice en materiales silíceos basado en el procedimiento clásico, cuyo estudio sistemático ha permitido su simplificación y un mayor grado de exactitud y reproducibilidad /
por: Gomá Ginestá, Fernando, et al.
Publicado: (1976)

X-Ray microanalysis in the electron microscope /
por: Chandler, John A., et al.
Publicado: (1977)

Optical transforms : their preparation and application to X-Ray diffraction problems /
por: Taylor, Charles 1922-2002
Publicado: (1964)

Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz /
por: Ramírez Porras, Arturo
Publicado: (2005)

Quantitative interpretation of mineralogical composition from X-ray and chemical data for the Pierre Sahle /
por: Schultz, Leonard Gene 1926-, et al.
Publicado: (1964)

Silica in sediments : nodular and bedded chert /
por: McBride, Earle F.
Publicado: (1979)

Silicio en la agricultura /
por: Matichenkov, V.V.

Protocolo para el análisis de inclusiones fundidas en ceniza volcánica por medio de la técnica de espectroscopía Raman para el Raman Confocal Witecalpha300 del Centro de Investigación en Ciencia e Ingeniería de Materiales /
por: Méndez Rojas, Sergio Alberto 1991-
Publicado: (2022)

The power method: In X-ray Crystallography /
por: Azaroff, Leonid V.
Publicado: (1958)

Worked examples in X-ray spectrometry
por: Jenkins, Ronald H. 1932-, et al.
Publicado: (1970)

X-Ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals /
por: Moore, Duane Milton 1933-
Publicado: (1989)

Device Applications of Silicon Nanocrystals and Nanostructures /
Publicado: (2009)

Infrared and raman spectroscopy : in three parts /
por: Brame, Edward G. 1927-
Publicado: (1976)