IEEE transactions on device and materials reliability /
| Autores Corporativos: | , , |
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| Formato: | Seriadas |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York, New York :
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
2001-.
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| Materias: |
| Publicado: | Vol. 1, no. 1 (mar. 2001)- |
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| Notas: | Incluye compendio y términos indizados para cada artículo. -- Anuncia la fiabilidad de componentes electrónicos con rápida diseminación de información para la creación de productos de seguridad: electrónicos, ópticos, magnéticos y los dispositivos MEMS junto con microsistemas y paquetes; incluye procesos de fabricación usados para hacer los dispositivos; investigación y desarrollo durante la manufactura. -- Disponible en línea. -- Descripción basada en vol. 1, no. 1 (2001). |
| Descripción Física: | volúmenes : ilustraciones |
| Frecuencia de Publicación: | Semanal |
| ISSN: | 1530-4388 |