IEEE transactions on device and materials reliability /

Detalles Bibliográficos
Autores Corporativos: Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscattaway, Estados Unidos) (Publicador), IEEE Electron Devices Society (Autor, Autor/a), IEEE Reliability Society (Autor, Autor/a)
Formato: Seriadas
Lenguaje:English
Publicado: New York, New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001-.
Materias:
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022 |a 1530-4388 
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040 |a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica 
041 0 |a eng 
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110 2 |a Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscattaway, Estados Unidos)  |e Publicador  |4 pbl 
245 1 0 |a IEEE transactions on device and materials reliability /  |c a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliabilite Society 
260 |a New York, New York :  |b Institute of Electrical and Electronics Engineers,  |c 2001-. 
300 |a volúmenes :  |b ilustraciones 
310 |a Semanal 
362 0 |a Vol. 1, no. 1 (mar. 2001)- 
500 |a Incluye compendio y términos indizados para cada artículo. -- Anuncia la fiabilidad de componentes electrónicos con rápida diseminación de información para la creación de productos de seguridad: electrónicos, ópticos, magnéticos y los dispositivos MEMS junto con microsistemas y paquetes; incluye procesos de fabricación usados para hacer los dispositivos; investigación y desarrollo durante la manufactura. -- Disponible en línea. -- Descripción basada en vol. 1, no. 1 (2001). 
590 |a Suscripción/Expositor 
590 |a Suscripción. 
650 |a ELECTRONICA 
650 |a PUBLICACIONES PERIODICAS ESTADOUNIDENSES 
650 |a DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS 
650 |a DISPOSITIVOS MAGNETICOS 
650 |a MICROELECTRONICA 
650 |a CERAMICA  |x MATERIALES 
710 2 |a IEEE Electron Devices Society  |e Autor/a  |4 aut 
710 2 |a IEEE Reliability Society  |e Autor/a  |4 aut 
912 |a 26-MAR-2015 - SALAZAR ALVAREZ, CLAUDIO 
916 |a Centro Catalográfico