Applied logistic regression /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hosmer, David W. (Autor, Autor/a), Lesmeshow, Stanley (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : A Wiley-Interscience Publication, c2000.
Edición:2. edition
Colección:Wiley Series in Probability and Statistics
Materias:
Descripción
Descripción Física:xii, 373 páginas : ilustraciones.
ISBN:0471356328