Applied logistic regression /

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hosmer, David W. (Autor, Autor/a), Lesmeshow, Stanley (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : A Wiley-Interscience Publication, c2000.
Edición:2. edition
Colección:Wiley Series in Probability and Statistics
Materias:
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