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| LEADER |
01177nam a2200265 a 4500 |
| 001 |
000631374 |
| 005 |
20210211102214.0 |
| 008 |
200804s2015 cauado gs 0|0 | eng d |
| 020 |
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|a 9781681740843
|q (ebook)
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| 020 |
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|a 9781681740201
|a (print)
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| 040 |
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|a Sistema de Bibliotecas de la Universidad de Costa Rica
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| 082 |
0 |
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|a 620.502.87
|2 23
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| 100 |
1 |
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|a Cox, David Christopher
|d 1965-
|e Autor/a
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| 245 |
1 |
0 |
|a Introduction to focused ion beam nanometrology /
|c David C. Cox.
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| 260 |
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|a San Rafael, CA :
|b Morgan & Claypool Publishers,
|c c2015.
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| 300 |
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|a 1 recurso en línea (1 volumen en varias paginaciones) :
|b ilustraciones (algunas a color), fotografías (algunas a color), gráficos (algunos a color), archivo de texto, PDF.
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| 490 |
0 |
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|a IOP Concise Physics
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| 506 |
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|a Acceso al texto completo para la comunidad de la UCR por medio de la cuenta institucional
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| 650 |
0 |
0 |
|a HAZ DE IONES ENFOCADOS
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| 650 |
0 |
0 |
|a MATERIALES NANOESTRUCTURADOS
|x MEDICIONES
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| 650 |
0 |
7 |
|a CIENCIA DE LOS MATERIALES
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| 856 |
4 |
1 |
|u https://iopscience.proxyucr.elogim.com/book/978-1-6817-4084-3
|y Ver documento en línea
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| 900 |
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|a 2021-O
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| 916 |
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|a Centro Catalográfico
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| 949 |
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|a ACC -CMP
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