Introduction to focused ion beam nanometrology /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Cox, David Christopher 1965- (Autor/a)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: San Rafael, CA : Morgan & Claypool Publishers, c2015.
Colección:IOP Concise Physics
Materias:
Acceso en línea:Ver documento en línea

Ejemplares similares